X射线电镀膜厚分析仪 X光谱膜厚分析仪

X射线电镀膜厚分析仪

【详细说明】

荧光X射线镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，快速无损测量，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
可测元素范围：
钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)

主要特点

测量范围宽，可检测元素范围；

可同时测定5层/15种元素/共存元素较正；

精度高、稳定性好；

强大的数据统计、处理功能；

标准片；

的系统安全性

简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权

?主管人员可进行系统维护

?系统自动生成操作员的使用记录

?自动锁定功能防止未授权的操作

?Z轴保护传感器

?安全防射线光闸

?样品室门开闭传感器

?X射线锁

?X射线警示灯

?紧急停止按钮

?前面板安全钮和后面板安全锁

综合性能:镀层分析  
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

X射线电镀膜厚分析仪